Semiconductor

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제품소개 제품명 NSV 50/100/200 제품설명 • FOV(Field Of View)별 분류 - NSV 50 : FOV = 50 x 50mm - NSV 100 : FOV = 100 x 100mm - NSV 200 : FOV = 200 x 200mm • 표면 검사 : Orange feel and wheel mark of Bare boards(Glass, Crystal and Sapphire etc.) • Bare board의 Vapor deposition 공정 전 검사 • 제품 출하 전 또는 AT시 내부 defect(stria, growth strip) 검사 • 다양한 film 종류에 대한 비정규 검사 • Application에 따라 다양한 flatform 지원 제작 : 반도체 및 FPD용 대형 장비 지원 Saw marks (Polishing marks) : Crack을 유발시킬 수 있는 Saw mark Stria (inside defect) and Orange peel (surface defect) of Glass, Quartz, Crystal etc. V-scope는 육안으로는 확인이 불가능한 투과 sample의 내부 defect과 polishing mark의 표면 defect을 볼 수 있다.

제품소개
제품명	NSV 50/100/200
제품설명	• FOV(Field Of View)별 분류 - NSV 50 : FOV = 50 x 50mm - NSV 100 : FOV = 100 x 100mm - NSV 200 : FOV = 200 x 200mm • 표면 검사 : Orange feel and wheel mark of Bare boards(Glass, Crystal and Sapphire etc.) • Bare board의 Vapor deposition 공정 전 검사 • 제품 출하 전 또는 AT시 내부 defect(stria, growth strip) 검사 • 다양한 film 종류에 대한 비정규 검사 • Application에 따라 다양한 flatform 지원 제작 : 반도체 및 FPD용 대형 장비 지원 Saw marks (Polishing marks) : Crack을 유발시킬 수 있는 Saw mark Stria (inside defect) and Orange peel (surface defect) of Glass, Quartz, Crystal etc. V-scope는 육안으로는 확인이 불가능한 투과 sample의 내부 defect과 polishing mark의 표면 defect을 볼 수 있다.